我国科学家揭示铁电材料失效机制：提出氮空位拓扑稳定调控方案，铁电存储器循环寿命突破 100 亿次

IT之家 9 月 25 日消息，西安电子科技大学郝跃院士团队联合香港城市大学和复旦大学在纤锌矿铁电材料耐久性问题上取得突破。 铁电存储器利用材料中原子尺度的极化方向记录信息。以氮化铝钪为代表的纤锌矿氮化物铁电材料因结构高度有序、与现有芯片制造工艺兼容，被视为下一代非易失性存储器的候选材料。但这类材料在反复读写中耐久性不足，完全极化翻转条件下已有器件通常在约一亿次循环后失效。 IT之家注：纤锌矿是一种晶体结构类型，氮化铝钪等氮化物铁电材料即采用该结构，其晶体中原子按特定规律排列。 ▲ 氮空位限域稳定缺陷拓扑实现纤锌矿铁电超高耐久性机理图 此前研究人员已观察到漏电增加、铁电性能退化等失效现象，但循…